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    型號(hào):
    更新日期:2023-11-16
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    型號(hào):
    更新日期:2023-11-16
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    型號(hào):
    更新日期:2023-11-21
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    型號(hào):
    更新日期:2023-11-15
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    型號(hào):
    更新日期:2023-11-15
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  • Agilent4287A射頻測(cè)試儀

    Agilent4287A射頻測(cè)試儀在1MHz~3GHz頻率范圍可以提供精確、可靠和快速測(cè)量,以改進(jìn)生產(chǎn)線上對(duì)電子元件進(jìn)行測(cè)試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反射測(cè)量技術(shù)不同,采用直流電壓測(cè)量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行精確測(cè)量。 技術(shù)指標(biāo) 測(cè)量參數(shù):|Z|,|Y|,L,C, R,D, Q, X,G,B,θ 測(cè)量電路形式:串聯(lián)和并聯(lián) 工作頻率:1 MHz~3 GHz 頻率分辨率:10 kHz

    型號(hào):
    更新日期:2023-11-17
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